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近50种芯片类型全覆盖!置富科技在存储芯片测试领域创造“芯”可能

发表时间:2025-04-28 10:25

在人工智能和万物互联的AI浪潮下,数据已成为驱动数字经济的核心动能,而闪存芯片作为数据存储的基石,其品质直接影响数据中心、智能终端等关键领域的运行效能与数据安全。


置富科技凭借自主研发的闪存测试技术和设备,通过多年的数据积累,依托AI人工神经网络算法模型,建立存储芯片底层大数据库,为不同应用领域存储芯片测试建模提供直观的数据支撑。现已覆盖近50种市场主流芯片规格 ,正以创新之力填补国内空白,推动产业发展!

闪存颗粒适配表
厂商颗粒型号类型

长存_井冈山

X1-9050

JC3BTLC
DU1B
UF09
DC3B
HC3B

长存_泰山

X2-9060

HC6CTLC
JC6C
DC6C
OC6C
C3G0
W130T
MF4C

长存_黄山

X2-6070

WQC1QLC

长存_武当山

X3-9070

Y2309TLC

长存_峨眉山

X3-6070

DCADQLC
HCAD
JCAD

长存_武夷山

X3-9060

DI8DTLC
HI8D
JI8D

长存_五台山

X4-9060

YMN09TF1B5DFBETLC
美光L06BMLC
NW711SLC
B16TLC
B47R
B58R
N48RQLC
N58R
东芝/铠侠BICS3(V23)TLC
BICS3(W23)
BICS4
BICS5
TH58TFT0DFKBA8JMLC
海力士V5TLC
V6
V7
V7-BAG152
英特尔 L06BMLC
N38QLC
闪迪WDC BICS5TLC
GT923
JC9T25
三星V6TLC
V6SB1
K6SB1


作为一家专业的闪存芯片智能测试服务商,置富科技已推出便携式-专业版、生产版、科研版、宽温版、卓越版、芯片测试自动分选机、芯片高温筛选机、eMMC芯片智能测试系统和闪存失效分析仪,针对不同的应用场景,可提供不同的产品解决方案,也可以根据客户需求,提供定制化测试服务。

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置富闪存芯片智能测试系统,是一款可量身定制测试方案的综合闪存测试系统,能同时支持多种测试pattern及自定义测试参数功能,可以实现闪存颗粒剩余寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试,同时支持宽温测试,企业级芯片测试,帮助用户检验闪存颗粒的可靠性状态,是国内唯一自主研发的闪存芯片智能测试系统。该系统的研发和面世,可以极大地提高测试效率和精准度,保证存储产品的良率,降低企业生产成本。

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置富科技将继续深耕存储器测试领域,通过持续的数据积累,不断的优化创新,以智能化测试技术赋能存储芯片全生命周期管理,推动存储器测试产业健康有序发展。


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