置富科技闪存可靠性分析与测试技术研讨会完美落幕发表时间：2023-03-20 15:04 3月16日，中国计算机行业协会信息存储与安全专业委员会与置富科技联合举办的“2023闪存可靠性分析与测试技术研讨会”在深圳观澜湖度假酒店成功举办。本次研讨会围绕着闪存可靠性研 究、闪存失效分析、闪存存储体系发展趋势、国内外闪存标准现状分析以及闪存测试方法等热点话题展开，汇集120余家从事闪存存储领域的产、学、研、用、测等企业和机构共200余观众，就闪存可靠性分析和测试技术进行交流探讨。
会上，专委会会长谢教授表示，现如今数据爆发性增长已经成为不可逆趋势，而数据与存储紧密相关，只要数据在不断的增加，存储行业就会不断的发展，所以存储行业必定是一个快速发展的行业，其中的闪存测试也是一个重要环节，置富科技的测试技术和测试设备给闪存可靠性测试带来了一定技术上的支撑，对半导体产业发展有重要意义。
陈主任强调：“存储是现代化信息产业的‘粮草’，是未来社会发展的基石，是数字经济时代的核心支撑，是存储产业的重要分支。目前国内存储器的市场需求规模约占全球的1/3，是美国、欧盟和日本市场的总和。在此背景下，闪存质量国家标准的建立尤为重要，在一定程度上提升行业的规范性，是保障产品质量的一种重要手段，置富科技的芯片检测设备和芯片测试分级技术处于行业领先水平，在参加国家行业标准的制定过程中，起到重要作用”。
肖董在会上对各位嘉宾的到来表示热烈欢迎，同时总结了最近一年公司取得的成绩： 通过广东省存储器智能测试工程技术研究中心的认定; 通过深圳市专精特新中小企业的认定; 与广东工业大学合资投建首座专业的闪存芯片检测中心（佛山）; 与广东省检验检测认证研究院集团有限公司（粤检集团）签订战略合作协议; 肖董表示置富科技将持续致力于推广手机存储芯片、车规存储芯片的检测和技术研究。作为闪存存储器相关国家标准的起草单位之一，置富科技一直积极推动固态盘、存储器分类分级技术规范的建立与推广，致力于规范闪存存储产品市场，使得闪存芯片、固态盘、存储器有规范可循，有标准可依。
阳主任在会议中主要从闪存产业发展背景、产业面临的主要问题以及如何规范化发展这三个方面作专题报告，并针对闪存安全隐患多，数据风险大，可靠性低，数据风险大，规范性不明确等突出问题提出：建立和健全闪存产业的标准化体系，加强闪存产品的权威检测和认证，推进产品质量风险监管的解决方案，以保证产品品质。
刘先生提出：“为打造高质量闪存产品品牌和行业生态，引领和促进行业应用，需要结合行业迫切需求，有计划的制定涵盖产品标准、基础标准及应用标准等类型的系列方法规范，为闪存行业的相关产品研发、应用选型和认证测评服务等提供依据和参考”。
王部长表示：“存储是数据基础设施的重要组成，是数字经济高质量发展的基石，存储、计算、网络三者需要协同发展，只有数据存的好、算得快才能存的稳”。
陈教授从3D NAND闪存的最新进展、3D NAND的结构特点出发，分析了闪存可靠性问题，提出目前3D NAND的结构以及工艺等特点决定了闪存的可靠性特性。
裴先生主要从SSD角度分析NAND测试面临的挑战，以及NAND的特性影响了数据可靠性等问题，并为优化测试流程，挖掘NAND潜力，打造高可靠SSD提供了解决方案。
王博士通过对三维NAND闪存数据保持问题的解读，重点阐述高效重读纠错算法和互信息辅助译码优化算法，可以有效提升三维NAND存储系统在高损耗及长待机等极端条件下的读写性能及纠错能力。
刘教授针对目前3D闪存面临的可靠性问题，提出利用机器学习等人工智能算法工具来对闪存进行失效预测的重要理论，并在大量实验和验证的基础上，提出了基于任意模型强化学习算法的预测工具LightWarner，用动态的预测模型为主控提供更精确可靠的闪存应用指导。
熊女士从闪存测试重要性和必要性方面，向与会嘉宾分享了置富科技智能闪存测试平台的主要功能和原理，在基于动态预测模型和闪存智能预测技术上，以及如何兼顾准确和效率，有效得实现NAND 筛选分级和应用指导。
方教授通过对错误类型、原始误码率、纠错频率、不同类型(MLC, eMLC, SLC驱动器)的可靠性比较，阐明了在大规模部署SSD的情况下，上层的应用软件需要考虑SSD存储的容错机制，防止数据在SSD中丢失，也由于SSD故障模型的变化，上层软件的容错机制需要做出调整，适应SSD局部故障的问题。
罗先生从数据中心基础设施演进趋势和企业级SSD发展现状及问题，综合阐述了存储软硬结合潜在的重要性，希望行业伙伴通过合作实践，共同打造良好的行业生态。
韩教授从3D器件特性测试、智能信道检测技术研究、智能信道估计技术研究三个方面介绍了深度学习辅助的3D闪存信道检测与估计技术研究的重要性和优势特点。
吴博士表示：“存储是信息的基石，存储需求无处不在，从远古结绳记事，到当今闪存技术，再到未来DNA存储 ，存储技术一直是人类进步的阶梯。”
田先生表示在目前国际形势下，在高性能运算微系统中，chiplet和先进工艺可以较大程度支持我国经济发展对未来对算力的需求，并结合chiplet的特点，形成统一的接口、IP、布局、2.5D/3D工艺标准和测试标准。 本次会议不仅吸引了行业内各企业的目光，也引起了社会的广泛关注，深圳媒体记者也前来会场对部分嘉宾和行业代表进行了专题采访。
本次研讨会完美收官，对推动闪存可靠性测试产的发展有着重要的意义。未来置富科技将继续加强与产学研用测等半导体领域单位的沟通，建立起深度合作的桥梁，以专业的技术，全面的产品解决方案，服务广大客户，致力于半导体存储测试产业的发展，为国产化替代和现代化信息产业的做出积极贡献。
置富科技作为一家专业的闪存芯片智能测试设备服务商，一直专注于存储领域，目前已通过国家高新技术企业认定和深圳市专精特新认定，是一家技术创新性企业。经过多年技术探索和经验积累，开发完善了一套解决方案，并依托核心AI测试方法结合硬件方案，完美解决目前闪存芯片测试不通用以及测试时间周期长等问题。公司以闪存智能测试和分级筛选为核心，逐步形成以芯片测试、方案应用、产品销售为一体的全产业链企业。 声明：此篇为广告原创文章，转载请标明出处链接：https://www.futurepath.com.cn/sys-nd/32.html
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