CITE2023第十一届中国电子信息博览会完美收官

本次展会，置富科技重点展示了闪存芯片智能测试系统-实验版（FT-N016W）、便携式-专业版（FT-N008B）、eMMC智能测试系统以及国产化固态存储产品，吸引了不少专业观众前来交流探讨，寻找合作契机。尤其是对于置富自主研发的闪存寿命预测技术，引发了大家深刻的探讨，受到广泛关注。该技术通过长时间大量数据积累分析和模拟，创新地将人工神经网络算法应用于Flash颗粒测试技术中，在非破坏性的闪存测试方式下，预测闪存芯片block的剩余耐写次数和质量等级。对闪存芯片的可靠性做快速有效的筛选，从而提升存储器的可靠性和使用寿命，为企业降本增效。

闪存智能分级   助力产业发展

展会现场，置富闪存芯片智能测试系统-实验版（FT-N016W）也备受瞩目，众多存储行业客户与工程师深入探讨闪存测试的必要性以及测试设备功能，可以为客户解决的痛点等问题。该设备是一种可以量身定制测试方案的综合闪存测试系统，系统并行测试闪存颗粒数量最多可达16颗，可支持多种测试pattern及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供最直观的图形化测试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供最精确的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测结果实现智能分级，可以为高级工程师闪存质量分析、科研单位闪存质量研究提供有效助力，为半导体产业发展提供可靠的测试工具。

此外，置富科技还有针对量产型测试的闪存测试设备：生产版（FT-N240）、科研版（FT-N200）、宽温版（FT-N240B）、卓越版（FT-N512），可提供宽温测试环境，并行测试闪存颗粒种类最多达64种，并行测试闪存颗粒数量最多达512颗，可以大大提高闪存芯片的鉴定能力和检测效率，满足存储厂商和大型检测中心的测试需求，为高端领域应用提供了可靠的存储质量保障。

置富科技以闪存智能测试和分级筛选为核心，逐步形成以芯片测试、方案应用、产品销售为一体的全产业链企业，参与本次展会也是为了响应市场需求，协同上下游产业链，共同推动半导体产业的高质量可持续发展。