厚积薄发 创新引领·置富闪存芯片智能测试系统已覆盖超过40种芯片类型

2018年，置富科技第一代闪存芯片智能测试系统样机问世，自此，公司迈出了高端半导体测试设备国产化替代的步伐。这几年，置富科技一直保持与行业翘楚以及客户的紧密联系，挖掘市场需求，不断完善迭代闪存芯片智能测试系统功能，以适应日益复杂的芯片设计和制造需求和用户体验。

置富闪存芯片智能测试系统通过庞大的数据采集和数学模型搭建，现阶段支持芯片测试类型已突破40种，覆盖市场上主流芯片规格 ，可进一步为各存储厂商和行业客户提供全面专业的芯片测试服务。

置富闪存芯片智能测试系统是一款可量身定制测试方案的综合闪存测试系统，实验版、科研版、宽温版以及卓越版测试系统可提供宽温测试环境，并行测试闪存颗粒种类多达64种，并行测试闪存颗粒数量多达512颗，同时支持多种测试 pattern 及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠性状态。完成测试后，用户可方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供直观的图形化测试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供可靠的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测结果实现智能分级，是国内唯一自主研发的闪存芯片智能测试系统，该系统的研发和面世，可以极大地提高测试效率和精准度，降低企业生产成本。

目前置富科技推出的闪存芯片智能测试系统主要有：便携式-专业版、生产版、科研版、宽温版、卓越版、芯片测试自动分选机、芯片高温筛选机和针对汽车、手机芯片测试的eMMC芯片智能测试系统，针对不同的应用场景，可提供不同的产品解决方案，也可以根据客户需求，提供定制化服务。

置富闪存芯片智能测试系统支持超过40种不同类型的芯片，不仅仅是提高生产效率的有效工具，也是保障芯片质量的坚实防线。

未来置富科技将继续不断探索和创新，持续优化设备功能，不断提高闪存测试效率和准确性，为芯片质量保驾护航，为高端国产化半导体测试设备提供更多选择，促进半导体测试产业健康有序发展。