8颗闪存测试设备
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型号 FP-1008
产品容量 1-8颗芯片
产品概述 单板FT-1008为小型的8口测试设备
产品参数
型号
FP-1008
产品容量
1-8颗芯片
产品概述
单板FT-1008为小型的8口测试设备
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产品详情

FLASH检测及寿命预测设备



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FLASH检测及寿命预测设备是忆数存储在基于原有的固态存储技术上,

自主开发出的FLASH检测技术设备。

该设备可预测出FLASH写次数并可检测出潜在坏块,

对于填补我国FLASH技术领域空白以及军工和工业固态存储领域具有重要意义。



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NAND FLASH过渡

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NAND FLASH从MLC过渡到3D TLC


原厂为了提高容量降低成本,只能牺牲NAND FLASH的寿命和质量

因此测试技术及设备的需求将在未来2—3年内呈现井喷式增长



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FLASH质量千差万别


目前FLASH质量由国外厂商定义,且并无行业标准

导致国内进口FLASH质量千差万别

造成存储行业价格、质量、种类均处于混乱状态


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各行业质量要求不同


军工存储、车载、数据中心、无人汽车、

5G应用等新兴行业对于FLASH质量要求各不相同

过去MLC的质量可以满足应用

但是随着3D TLC密度和容量的增大,质量问题凸显

因此,需要选择性或筛选后进行应用


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